Alloys; Positrons; Amorphous state; Annealing; Annihilation; Electrons; Irradiation; Lifetime; Physical radiation effects; Trapping; Vacancies; Very low temperature;
机译:裂变聚变中子辐照钒合金和F82H的正电子an没寿命测量
机译:扰动角相关和正电子an灭寿命测量检测中子辐照Ni-Hf合金中的间隙团簇
机译:在SINQ目标辐照程序中辐照的奥氏体不锈钢和铁素体/马氏体钢的正电子an没寿命测量
机译:低温电子辐照Fe-Cr-Ni和Fe-Cr-Ni-P合金的正电子消除寿命测量
机译:氢化非晶硅基材料中的电子漂移迁移率测量和导带尾态(锗和碳合金的影响)。
机译:掺有稀土元素Er3 +的碲化物玻璃70TeO2-5XO-10P2O5-10ZnO-5PbF2(X = MgBi2Ti)的正电子ni没寿命光谱法测量缺陷结构
机译:正电子寿命测量作为监测疲劳损坏的非破坏性技术。 1971年1月1日的最终报告 - 1978年6月30日。电子,空缺
机译:TEm(透射电子显微镜),正电子寿命和辐照,冷加工和退火Zr-1%Nb的硬度测量