机译:正电子寿命测量作为监测疲劳损坏的非破坏性技术。 1971年1月1日的最终报告 - 1978年6月30日。电子,空缺
机译:通过正电子寿命测量对奥氏体不锈钢的疲劳损伤演变进行无损监测
机译:通过正电子an没线形和寿命分析无损评估316不锈钢的疲劳损伤和疲劳裂纹萌生
机译:机械疲劳聚苯乙烯样品的正电子an没寿命测量
机译:电子辐照引起的硅中空位的退火过程:使用正电子寿命测量的分析
机译:基于荧光的FCS和相关技术对电子状态和离子交换动力学的监测:从T跃迁测量到荧光波动
机译:正电子寿命测量作为监测疲劳损坏的非破坏性技术。技术进度报告,1973年1月 - 1974年12月