Hardness ; Positrons ; Irradiation ; Cold working ; Annealing ; Zirconium ; Measurement ; Metal plates ; Defects ; Creep recovery ; Tension tests;
机译:用于切削工具的退火γ氧化铝涂层和切削加工后的γ氧化铝涂层切削工具的透射电子显微镜(TEM)研究
机译:1100℃至1500℃之间电子辐照的厚超纯4H SiC的退火以及寿命和光致发光的测量
机译:印度NPL使用透射电子显微镜(TEM)估算材料表征中的测量不确定度
机译:电子辐照引起的硅中空位的退火过程:使用正电子寿命测量的分析
机译:用透射电子显微镜(TEM)表征硅酸钙水合物3D纳米结构
机译:透射电子显微镜TEM研究单斜一氧化钛Ti5O5的原位无序
机译:由TDPAC和正电子寿命测量研究的冷加工和氢气CharbynBHF
机译:电子辐照非晶合金的正电子寿命测量