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【24h】

Deep Defect Levels in the Wurtzite Semiconductors: SiC, ZnS, ZnSe and ZnTe

机译:纤锌矿半导体中的深度缺陷:siC,Zns,Znse和ZnTe

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摘要

The chemical trends in defect levels of substitutional impurities and vacancies in SiC, ZnS, ZnSe and ZnTe are predicted. (Atomindex citation 15:069722)

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