EDB/320303; EDB/420400; EDB/440600; Ellipsometry; Evaporation; Film thickness; Fluid Flow; Heat Transfer; Image Processing; Interferometers; Microcomputers; Progress Report; Refractive index; Silicon Oxides; Thickness; Thin Films;
机译:Ti(Ta(+5))O2薄膜的表面能和光学带隙的抗血栓形成研究及血液相容性机理。
机译:超薄聚吡咯薄膜的研究:掺杂和去掺杂工艺及其通过电化学表面等离子体激元共振(ESPR)对其光学性能的影响
机译:高真空蒸发在光学质量熔融石英基板上产生的薄硅膜与薄硅膜相关的光学功能谱依赖性的影响
机译:Cu3bis3半导体薄膜结构,光学和电性能研究。
机译:钛酸锆钛酸铅薄膜的双轴应力效应和横向压电(d(31))表征的研究。
机译:低真空度热蒸发法制备a-Se薄膜的结构光学和X射线响应特性研究
机译:微型计算机增强了超薄薄膜中扩散和蒸发过程的光学研究