EDB/400101; EDB/360602; EDB/360603;
机译:HREM中图像反卷积技术确定SiGe / Si异质结构中错配位错复合体
机译:通过场发射HREM图像处理来区分半导体中60度错位的滑行和滑行类型
机译:GE中相干双胞胎脱位内矩阵位错入口引起的应变场的HREM研究
机译:GE中相干双GB内矩阵位错入口诱导的应变场的HREM研究。
机译:使用刚体运动学从相衬磁共振成像速度场确定三维轨迹。
机译:Ge / Si异质结构中位错的应变场映射
机译:用谐波相位mRI快速测定标记心脏图像区域心肌应变场