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Calculation of the Auger Line at the Si/SiO2 Interface

机译：si / siO2界面俄歇线的计算

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作者
Kunjunny, T.; Ferry, D. K.;
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作者单位

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年度 1980
页码 p.1-3
总页数 3
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
Silicon; Auger electron spectroscopy; Boltzmann equation; transport properties; Interfaces; Chemisorption; Oxygen; Semiconductors; Reprints;

机译：硅;俄歇电子能谱;玻尔兹曼方程;输运性质;界面;化学吸附;氧;半导体;重印;

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