Quantitative analysis; Semiconductor devices; Sensitivity; Impurities; Profiles; Doping; Sputtering; Ion implantation; Reprints; Optimization; Layers; Gallium arsenides; Aluminum gallium arsenides; Resolution; Semiconductors; High resolution; Molecular be;
机译:共振电离光谱法用于定量和灵敏的表面和批量测量Ⅱ-Ⅵ材料中的杂质
机译:通过高效液相色谱,常压化学电离液相色谱/质谱和核磁共振波谱法分离和鉴定甲氧苄氨嘧啶原料药中的工艺杂质。
机译:锗中n型掺杂物扩散分布的定量扫描扩展电阻显微镜和掺杂物失活的起源
机译:北德克萨斯大学的溅射引发的共振电离光谱
机译:通过扫描探针显微镜对半导体上的二维二维掺杂物轮廓进行定量测量。
机译:乳腺癌的转录组学和代谢组学分化:磁共振波谱和胆碱途径中的定量表达谱分析的进展和治疗反应。
机译:其最终极限下的杂质光谱:通过(几乎)固体中的所有单独的掺杂剂分子的光谱,批量光谱,不均匀扩大和局部疾病之间的关系
机译:溅射引发的共振电离光谱:半导体中杂质和超浅掺杂分布的定量和灵敏测量的分析技术