High resolution; Electron microscopy; Silica gels; Phase transformations; Intensity; Models; Observation; Patterns; Scientists; Time; Transitions; X ray diffraction; Composite materials;
机译:通过高分辨率扫描电子显微镜对有序介孔二氧化硅(MCM-41,SBA-15和KIT-6)和纳米浇铸金属氧化物的表面拓扑和孔系统进行直接成像
机译:通过透射电子显微镜和扫描电子显微镜对M41S介孔二氧化硅(MCM-41至MCM-48和MCM-50)随时间变化的结构变化进行结构研究
机译:高分辨率透射电子显微镜下SBA-15和MCM-41介孔二氧化硅的详细结构表征
机译:电子衍射和高分辨率电子显微镜测定的沸石和中孔晶体的结构
机译:III-V型化合物半导体材料表征的各种光电子器件的微结构和纳米结构的分析透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜。
机译:牙本质牙釉质边界牙本质和牙釉质矿物质的关系:电子断层扫描和高分辨率透射电子显微镜研究
机译:介孔MCM-41型材料的高分辨率透射电子显微镜