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Quantum gates by coupled quantum dots and measurement procedure in Si MOSFET

机译:Si MOSFET中耦合量子点的量子门和测量程序

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摘要

We investigated the quantum gates of coupled quantum dots, theoretically, when charging effects can be observed. We have shown that the charged states in the qubits can be observed by the channel current of the MOSFET structure.
机译:从理论上讲,当可以观察到电荷效应时,我们研究了耦合量子点的量子门。我们已经表明,可以通过MOSFET结构的沟道电流观察到量子位中的充电状态。

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