Calibration of total-reflection X-ray fluorescence using a nickel bulk sample

Joachim Knoth; Peter Beaven; Heinrich Schwenke; Maximilian Dobler; Ulrich Reus

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Calibration of total-reflection X-ray fluorescence using a nickel bulk sample

机译：使用镍块样品校准全反射X射线荧光

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来源
《Spectrochimica Acta, Part B. Atomic Spectroscopy 》 |2001年第11期| 共7页
作者
Joachim Knoth; Peter Beaven; Heinrich Schwenke; Maximilian Dobler; Ulrich Reus;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类原子光谱学 ; 分析化学 ;
关键词
total-reflection X-ray fluorescence (TXRF); quantification; calibration; wafer contamination;

机译：全反射X射线荧光（TXRF）;量化;校准;晶片污染;

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