Characterisation of fine-scale microstructures by electron backscatter diffraction (EBSD)

F. J. Humphreys

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Characterisation of fine-scale microstructures by electron backscatter diffraction (EBSD)

机译：通过电子背散射衍射（EBSD）表征微尺度的微观结构

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Recent developments in instrumentation and software now enable grain structures >0.1 μm to be quantitatively characterised by EBSD in conjunction with a field emission gun scanning electron microscope. The paper discusses the advantages and limitations of the technique.

机译：仪器和软件的最新发展现在使EBSD结合场发射枪扫描电子显微镜对> 0.1μm的晶粒结构进行定量表征。本文讨论了该技术的优点和局限性。

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来源
《Scripta materialia》 |2004年第8期|共6页
作者
F. J. Humphreys;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类金属学与热处理;
关键词
EBSD; FEGSEM; Grain boundaries; ECAE; Cold working;

机译：EBSD;FEGSEM;晶界;ECAE;冷加工;

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