NIST NEWS-INDUSTRY ROUND-ROBIN OF PHOTONIC SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

Alexana Roshko

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NIST NEWS-INDUSTRY ROUND-ROBIN OF PHOTONIC SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

机译：NIST新闻-工业圆光子半导体表征

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The Optoelectronics Division is conducting an industry inter-laboratory comparison of ex-situ characterization of InGaAsP films on InP that are the basis of long-haul telecommunication components.

机译：光电事业部正在进行实验室间比较，作为长途电信组件的基础，对InP上InGaAsP薄膜进行异位表征。

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来源
《NCSL Newsletter》 |2002年第1期|共2页
作者
Alexana Roshko;
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作者单位

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类条例、规程、标准;冶金工业;
关键词
入库时间 2022-08-18 12:22:30

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