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机译:用曲率测量和迭代有限元分析预测多层薄膜的残余应力分布
MEMS; Residual Stress; Stress Distribution; Multi-stacked Film; Stress Gradient;
机译:用曲率测量和迭代有限元分析预测多层薄膜的残余应力分布
机译:具有任意膜厚和失配应变分布的薄膜/基板系统。第一部分:从非局部曲率信息获得膜应力的分析
机译:具有任意膜厚度和失配应变分布的薄膜基板系统。第二部分:非局部应力曲率关系的实验验证
机译:开发用于预测多堆叠膜中残余应力分布的程序
机译:有限薄膜/基板系统中非均匀应力状态的分析:需要全场曲率测量。
机译:GeTe薄膜结晶时的应力累积:曲率测量和建模
机译:具有任意膜厚和失配应变分布的薄膜/基板系统。第一部分:从非局部曲率信息获得膜应力的分析
机译:与中子和X射线衍射测量相比,不锈钢中残余应力的有限元预测