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机译:具有任意膜厚度和失配应变分布的薄膜基板系统。第二部分:非局部应力曲率关系的实验验证
thin film; X-ray microdiffraction; non-local stress/curvature relations; METAL INTERCONNECTS; LINES; DEFORMATION; TEMPERATURE; INSTABILITY; NONUNIFORM; EVOLUTION; TUNGSTEN; RANGE;
机译:具有任意膜厚度和失配应变分布的薄膜基板系统。第二部分:非局部应力曲率关系的实验验证
机译:非均匀的轴对称失配应变:在粘结在平板基板/基板系统上的薄膜中:非均匀薄膜应力与系统曲率之间的关系
机译:在平板基板上粘合的薄膜中的空间非均匀各向同性失配应变:非均匀薄膜应力与系统曲率之间的关系
机译:(110)Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3薄膜在(001)正交Ndgao_3衬底上生长的相图和面内各向异性菌株
机译:有限薄膜/基板系统中非均匀应力状态的分析:需要全场曲率测量。
机译:铁电PbTiO3 / LaAlO3(111)薄膜系统的应变失配松弛
机译:具有任意膜厚和失配应变分布的薄膜/基板系统。第二部分:非局部应力/曲率关系的实验验证