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Simultaneous correction of bandpass and stray-light effects in array spectroradiometer data

机译:同时校正阵列分光辐射计数据中的带通和杂散光效应

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摘要

A method for the simultaneous correction of bandpass and stray-light effects in array spectroradiometer data is presented. The method is based on the inversion of the instrument matrix of a device determined with the help of tuneable lasers. By applying the Tikhonov regularization technique, a straightforward correction of the measurement results is possible.
机译:提出了一种同时校正阵列分光辐射计数据中的带通和杂散光影响的方法。该方法基于借助可调谐激光器确定的设备仪器矩阵的求逆。通过应用Tikhonov正则化技术,可以对测量结果进行直接校正。

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