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Studio della microstruttura di una lega di alluminio commercialmente puro sottoposta a severe deformazioni plastiche Parte I: Indagini microstrutturali

机译:商业纯铝合金在剧烈塑性变形下的显微组织研究第一部分:显微组织研究

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摘要

Questa prima parte del lavoro presenta uno studio sull' evoluzione della microstruttura nella lega di alluminio AA1200 sottoposta a notevoli deformazioni plastiche a freddo mediante ECAP (equal channel angular pressing). Una deformazione vera di 8 e stata sufficiente a produrre grani di dimensioni submicrometriche la cui microstruttura e costituita da una significativa frazione in volume di celle e sottograni. Il processo di deformazione e stato studiato attraverso analisi al microscopio elettronico in trasmissione (TEM) e al microscopio elettronico in scansione (FEG-SEM) attraverso l'EBSD (electron back-scattered diffraction). Dopo 8 passate (massima deformazione), la frazione di bordi ad alto angolo ha raggiunto il 72 percent del totale dei bordi generati. L'utilizzo del FEG-SEM e giustificato dalle potenzialita fornite dalle mappe prodotte mediante EBSD. Tali mappe permettono di apprezzare direttamente il perimetro totale di bordi ad alto angolo (grani) e a basso angolo (sottograni), che richiederebbe tempi enormemente piu lunghi mediante semplici analisi al TEM, pertanto, il FEG-SEM costituisce un' opportunita unica per la valutazione della frazione in volume dei bordi ad alto angolo in tempi brevi. Le analisi al TEM hanno consentito di studiare e valutare le prime fasi di formazione dei bordi a basso angolo in quanto il potere di risoluzione angolare del microscopio consente di apprezzare bordi di sottograni la cui disorientazione e estremamente piccola (0,1-0,2 deg).
机译:这项工作的第一部分介绍了通过ECAP(等通道角压)对A1200铝合金在明显的冷塑性变形下的组织演变的研究。 8的真实变形足以产生亚微米级的晶粒,其微观结构由大量的晶胞和亚晶粒组成。通过透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(FEG-SEM)使用电子背散射衍射(EBSD)分析来研究变形过程。经过8次(最大变形)后,高角度边缘的比例达到了生成的总边缘的72%。 FSD-SEM的使用被EBSD绘制的地图提供了潜力。这些图可以直接欣赏高角度(晶粒)和低角度(亚晶粒)边缘的总周长,而通过简单的TEM分析,这将需要更长的时间,因此,FEG-SEM为评估提供了独特的机会短时间内高角度边缘的体积分数的变化。 TEM分析使研究和评估低角度边缘形成的第一阶段成为可能,因为显微镜的角分辨能力使人们能够欣赏到其取向差极小(0.1-0.2度)的亚晶粒的边缘)。

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