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机译:光电导衰减和光电流产生方法在确定硅中少数载流子寿命中的应用
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机译:测定电导子寿命的光导衰变的研究
机译:测定少数载流子寿命的光电导空仪
机译:微波光导衰减(μ-PCD)与连续电晕电荷(Charge-PCD)耦合用于测量少数载流子寿命的硅表面制备方法的比较
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命。
机译:从欧姆接触纳米线器件中的扫描光电流曲线中提取少数载流子衰变长度的新解析公式。
机译:时间相关单光子计数法测定硅中少数载流子寿命的光致发光衰减研究
机译:通过观察点接触下扩散电阻的光电导衰减测量半导体少数电流载流子寿命