...
首页> 外文期刊>Elektronica: Praktijk + Techniek, with supplement: Elektra Data. >Oplossing voor verbogen reproduceerbaarheid bij RF-emissie en RF-immuniteitsmetingen? - Ei van Columbus: dummy-netwerken
【24h】

Oplossing voor verbogen reproduceerbaarheid bij RF-emissie en RF-immuniteitsmetingen? - Ei van Columbus: dummy-netwerken

机译:射频发射和射频抗扰度测量中衍射再现性的解决方案? -哥伦布的蛋:虚拟网络

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Alle elektrische en elektronische apparaten moeten worden getest op hun afgestraalde RF-emissie en hun immuniteit tegen RF-instraling. Dit gebeurt vaak op een meetveld (open area test site, OATS) of in een afgeschermde ruimte (semi-anechoische mimte, SAR). Het te meten elektrische of elektronische apparaat wordt dan opgesteld op een draaiplateau (floor-standing equipment) of op een tafel geplaatst (table-top equipment). Indien er kabels aangesloten moeten worden blijft dit een onderwerp van discussie met betrekking tot de functionele en common-mode impedanties die daarvan verwacht (mogen of moeten) gaan worden, in het bijzonder voor de lichtnetaansluiting.
机译:所有电气和电子设备均应测试其辐射的射频发射和抗射频辐射能力。这通常发生在测量场(开放区域测试站点,OATS)或屏蔽室(半消声空间,SAR)中。然后将要测量的电气或电子设备安装在转盘上(落地设备)或放置在桌子上(台式设备)。如果必须连接电缆,这仍然是关于预期的(可能或必须)的功能和共模阻抗的讨论主题,尤其是对于电源连接而言。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号