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Yield-Oriented Logic Failure Characterization for FA Prioritization

机译:FA优先级的面向良率的逻辑故障表征

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摘要

Although technological developments have changed the semiconductor scene dramatically over the past years, one thing that has not changed is the competitive nature of the industry. Companies are constantly exploring ways to accelerate product time-to-market and reduce manufacturing cost. With the rising cost of failure analysis (FA) and with FA being a significant stakeholder in the manufacturing value chain, FA resource optimization is necessary. One way to achieve this is prioritization.
机译:尽管在过去几年中,技术发展已大大改变了半导体领域,但没有改变的一件事是该行业的竞争性质。公司正在不断探索加快产品上市时间并降低制造成本的方法。随着故障分析(FA)成本的上升以及FA在制造价值链中的重要利益攸关方中,FA资源的优化是必要的。实现此目的的一种方法是确定优先级。

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