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Reliability phenomena under AC stress Review

机译:交流应力下的可靠性现象 评论

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摘要

Reliability phenomena are usually studied as DC effects at first. AC effects become important to setting realistic reliability acceptance criteria and predicting circuit reliability as technology scaling gradually erodes the margin of safety. This paper reviews the AC effects in hot-electron effect, electromigration, and gate oxide breakdown and stability. (C) 1998 Elsevier Science Ltd. References: 14
机译:可靠性现象通常首先作为直流效应进行研究。随着技术规模的逐渐侵蚀安全边际,交流效应对于设定现实的可靠性验收标准和预测电路可靠性变得非常重要。本文综述了交流电在热电子效应、电迁移和栅极氧化物击穿和稳定性中的作用。(C) 1998 Elsevier Science Ltd. [参考文献: 14]

著录项

  • 来源
    《Microelectronics and reliability 》 |1998年第1期| 1-5| 共5页
  • 作者

    Hu CM.;

  • 作者单位

    Univ Calif Berkeley, Dept Elect Engn & Comp Sci, 502 Cory Hall, Berkeley, CA 94720, USA.;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类 一般性问题 ;
  • 关键词

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