EMV-Fehler kinderleicht aufspuren: Mit Oszilloskopen, die eine hohe Empfindlichkeit und Messdynamik sowie FFT-Fahigkeit besitzen, sind Entwickler optimal gerustet, um auf EMV-Fehlersuche zu gehen.

摘要

Bislang eigneten sich Oszilloskope kaum fur die EMV-Fehlersuche. Ihre Empfindlichkeit war nicht hoch genug, um Storemissionen gut zu erfassen. Ferner waren ihre FFT(Fast-Fourier-Transformation)-Funktionen zur Spektrumanalyse nicht ausreichend leistungsfahig - und zudem waren sie noch kompliziert zu bedienen. Diesen Mangeln Abhilfe schaffen will das Unternehmen Rohde & Schwarz mit dem digitalen Oszilloskop R&S RTO. Eine Empfindlichkeit von 1 mV/Div, eine Bandbreite von bis zu 4 GHz und sehr geringes Eingangsrauschen sollen es moglich machen, Storemissionen mittels Nahfeldsonden zu erfassen und zu analysieren. Basierend auf Ergebnissen von EMV-Konformitatsprufungen konnen mit dem Oszilloskop im Entwicklungslabor unerwunschte Aussendungen von elektronischen Designs analysiert und deren Ursachen ermittelt werden. Als kostengunstige Alternative fur diese Anwendungen hat der Hersteller das Oszilloskop R&S RTE mit einer Bandbreite von bis zu 1 GHz entwickelt.