Niniejsza praca ma charakter metodyczny i jej podstawowym celem jest opracowanie procedury pozwalajacej na wspolne wykorzystanie metody RDF i metody Rietvelda do opisu modelu budowy materialow nanokrystalicznych wykazujacych rentgenowski obraz dyfrakcyjny, tak jak materialy amorficzne, oraz okreslenie warunkow stosowalnosci polaczenia tych metod, Opierajac sie na analizie dyfuzyjnego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego, na przy-kladzie nanokrystalicznych stopow Cu-Cd wykreslono funkcje RDF, z ktorych wyznaczono wartosci promieni i liczb koordynacyjnych, a takze przyblizony model struktury. Korzystajac z tych danych zastosowano procedure Rietveida, w ktorej zmieniaiac takie wielkosci jak: wspolczynniki dopasowania tla, funkcje opisujace ksztalt i szerokosc polowkowa linii dyfrakcyjnej, parametry komorki elementarnej, wspolrzedne polozenia atomow, parametry obsadzeniowe (POP) i temperaturowe, wykreslano dyfraktograin teoretyczny i porownywano go z eksperymentalnym az do otrzymania najlepszego dopasowania, tj. do uzyskania najmniej szych wartosci czynnikow R. Uzyskane ostatecznie parametry budowy badanych materialow posluzyly do wyrysowania modeli hipotetycznych "komorek elementarnych" badanych stopow. W pracy wykazano, ze taki sposob postepowania dla materialow nanokrystalicznych jest mozliwy i prowadzi do okreslenia najbar-dziej prawdopodobnego modelu ich budowy. Z tego wzgledu w podsumowaniu podano kolejne etapy realizacji zaproponowanej procedury.
展开▼
