首页> 中文期刊> 《材料导报:纳米与新材料专辑》 >X射线Rietveld方法在纳米材料研究领域的应用

X射线Rietveld方法在纳米材料研究领域的应用

         

摘要

纳米材料由于独特的微结构和奇异性能成为当今世界范围内研究与开发的热点。鉴于Rietveld方法在常规固体材料方面广泛而成功的应用,将Rietveld方法引入到纳米研究领域具有重要的意义。简要介绍了Rietveld方法的基本原理及其在纳米材料的晶体结构精修、物相定量分析和微结构分析等方面的应用。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号