高速信号の電子計測技術

摘要

近年、エレクトロニクス機器の小型化、高機能化が加速 するにつれて、電子部品は高速化、高密度実装化し、信号 品質・電源品質の劣化、電磁干渉に伴う回路の誤動作、 EMIなどの電気的問題が顕在化してきています。中でも、 試作、評価など製品開発の後半においてトラブルが発生し た場合には、部材の追加や開発期間延長などの問題が起こ りやすくなります。こういった問題を解決するためには、 製品開発の前半にある設計の質を向上させ、製品開発の完 成度を高めることが重要となります。