JTAGテスト(バウンダリスキャンテスト)

摘要

海外メーカーとの競合が激しいエレクトロニクス業界では、製品検査のスピードと効率化が利益と開発サイクルの短縮に重大な影響を与えることになる。JTAGテスト（バウンダリスキャンテスト）は、最近増えているBGA (DDRメモリとFPGA、マイコン）のはんだ不良によるトラブルを検査する最善の方法となる。