机译:簇二次离子质谱法深度分析4-乙胺基苯酚掺杂的聚乳酸薄膜
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机译:使用簇次级离子质谱法对聚甲基丙烯酸甲酯进行温度控制的深度分析。 1.调查深度剖面特征
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机译:通过图像深度轮廓二次离子质谱(SIMS)表征GaN膜中的衬底/膜界面
机译:使用依赖于深度的阴极发光光谱法和二次离子质谱法研究氮化铝镓膜和镍/氮化铝镓肖特基二极管。
机译:使用冠烯离子溅射源的可待用油负载聚(L-乳酸)膜的定量XPS深度分析
机译:通过飞行时间二次离子质谱深度分析研究Pb(Zr 0.2 Ti 0.8)O 3薄膜晶体界面的PB扩散