Contour法による残留応力測定技術

摘要

Contour法は米国で発明された技術で、数ある残留応力測定技術の中では最も新しいものである。工業部品内の残留応力分布を2次元マッピングできるという大きな特徴がある。本技術についてその概要を紹介する。