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垂直入射型Si光検出器と光導波路の集積化に向けた導波路型回折格子結合器の解析

机译:用于垂直入射Si光电探测器和光波导集成的波导型衍射光栅耦合器的分析

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摘要

平面型Si光検出器は基板に対して光を垂直に入射させる必要がある.そこで,光導波路と光検出器の集積化に向け,導波路型回折格子結合器を設計した.導波路材料は波長830nm帯で透明なアモルファスSiとし,断面積300nm×100nmの導波路構造において有限要素法を用いて解析した.金属反射鏡を装荷した回折格子結合器において,回折格子周期380nm,デューティ比=0.75,深さ35~65nmとした場合,光検出器への結合効率は80%となった.
机译:扁平Si光电探测器需要垂直入射在基板上。 因此,设计了一种波导型衍射光栅耦合器,用于集成光波导和光检测器。 使用有限元方法在波长为830nm的波导结构和透明非晶Si的波导结构中分析波导材料,以及具有300nm×100nm的横截面积的波导结构。 在装载有金属反射器的衍射光栅耦合器中,当衍射光栅时段380nm时,占空比= 0.75和35至65nm深度,光电探测器的耦合效率为80%。

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