首页> 外文期刊>電子技術 >バッケージからLSl、コンデンサ、抵抗まで電子部品の信頼性設計講座(8) - 良品解析の意味と理論
【24h】

バッケージからLSl、コンデンサ、抵抗まで電子部品の信頼性設計講座(8) - 良品解析の意味と理論

机译:从回到LSL,电容,电阻(8)的电子元件可靠性设计过程 - 非缺陷分析的方法和理论

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

前回は良品解析を発見した経緯とその効果について述べたが、今回は良品解析の意味と理論を解説したい。 良品解析は電気特性が正常な電子部品を解析するのであるが、その基本には電子部品には何らかの故障原因(欠陥)があり、その欠陥が時間の経過とともに成長して機能障害となって故障となるのであるどする原則を認めないと良品解析は成立しなくなる。 この原則を認めない方々は故障がどのようにして発生するのかを証明する必要がある。
机译:上次,我提到了发现良好的产品分析及其效果的历史,但我想解释这次无缺陷分析的意义和理论。 尽管电气特性是正常的,但是分析具有正常电气特性的电子元件,但电子元件的基本具有一些故障原因(缺陷),并且其缺陷随着时间的推移而生长在一起并变得功能障碍。如果你不承认原则原则,不会建立产品分析。 不承认这一原则的人需要证明如何发生故障。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号