声明
摘要
1 绪论
1.1 研究背景与研究目的
1.2 国内外研究现状
1.2.1 国外研究现状
1.2.2 国内研究现状
1.3 电容屏缺陷检测研究方法
1.3.1 原理分析
1.3.2 主要检测流程
1.4 论文章节安排
2 图像预处理
2.1 图像滤波
2.1.1 均值滤波
2.1.2 高斯滤波
2.1.3 中值滤波
2.1.4 基于梯度倒数加权法的中值滤波
2.2 图像灰度化
2.3 图像增强
2.3.1 灰度变换
2.3.2 直方图增强
2.4 本章小结
3 缺陷检测
3.1 引线的投影失真校正
3.1.1 建立投影变换模型
3.1.2 根据模型实施变换
3.2 基于SIFT算法的图像匹配及其改进
3.2.1 SIFT特征点的检测
3.2.2 基于SIFT特征点的匹配及改进算法
3.3 基于差影法的缺陷检测
3.4 本章小结
4 缺陷分割
4.1 镀层缺失引线缺陷的分割
4.1.1 相位一致性原理
4.1.2 非极大值抑制及边缘连接方案
4.1.3 基于区域生长的分割
4.1.4 基于引线面积的缺陷检测及提取
4.2 有划伤引线缺陷的分割
4.2.1 基于梯度的边缘检测
4.2.2 基于Hough变换的缺陷检测
4.3 有短路引线缺陷的分割
4.3.1 图像二值化分割
4.3.2 缺陷区域检测
4.4 有黑点引线缺陷的分割
4.5 有断线引线缺陷的分割
4.6 本章小结
5 分类识别
5.1 特征提取
5.1.1 几何特征
5.1.2 形状特征
5.1.3 不变矩
5.2 缺陷识别
5.2.1 统计模式识别
5.2.2 基于改进的KNN分类器的缺陷识别
5.3 本章小结
6 总结与展望
6.1 工作总结
6.2 展望
致谢
参考文献