首页> 外文期刊>Радиотехника и электроника >ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ГЛУБОКИХ ЦЕНТРОВ В ДЕТЕКТОРАХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОСНОВЕ Al/i-GaAs
【24h】

ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ГЛУБОКИХ ЦЕНТРОВ В ДЕТЕКТОРАХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ И РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОСНОВЕ Al/i-GaAs

机译:基于Al / I-GaAs的带电粒子探测器和X射线辐射的探测器的深度参数研究

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Проведены исследования параметров глубоких центров в барьерных структурах на основе собственного арсенида галлия, используемых в детекторах заряженных частиц и рентгеновского излучения, методами релаксационной спектроскопии глубоких уровней (РСГУ) и спектроскопии низкочастотного (НЧ) шума. В образцах обнаружены два глубоких уровня (ГУ) с разной слоевой концентрацией. Показано, что высокотемпературный ГУ, имеющий большую энергию ионизации, определяет уровень спектральной плотности мощности избыточного шума и величину обратных токов детектора на основе структур Al/i-GaAs. Получено совпадение значений энергий ионизации ГУ, найденных методами РСГУ и спектроскопии НЧ-шума.
机译:基于在带电粒子和X射线辐射的探测器的探测器中,对屏障结构中的屏障结构中深度中心的参数研究,深水平(RSSU)和低频(LF)光谱法的弛豫光谱法。在具有不同层浓度的样品中发现了两个深水平(GU)。结果表明,具有更大电离能量的高温沟,基于Al / i-GaAs结构确定过多噪声功率的光谱密度和检测器的反向电流的值。通过RSSU方法发现GU的电离能值的重合和HF噪声的光谱。

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号