テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法

摘要

LSIの微細化技術の進展ならびに高集積化·多層化に伴い，配線の接続不良によるオープン故障のテストおよび診断が不可欠となっている．さらに最近ではBISTの導入が進み，BIST環境に適用できるオープン故障の有効な診断底の開発が望まれている。 BIST環境においては，被検査回路の故障を検出するテストにおいて誤りを観測する外部出力を知ることは一般に困難である。 そこで本研究では，テストが故障を検出するか（検出テスト）否か（非検出テスト）の検出／非検出情報のみを用いた分岐元信号線の単一オープン故障の診断法を提案する。 提案する手法では，検出テストおよび非検出テストを用いて単一縮退故障シミュレーションを行い，分岐先信号線における縮退故障の検出回数に基づいて故障候補の分岐元信局線を推定する。 さらに診断分解能を向上させるために，推定した分岐元信号線の分岐先信号線に対する多重縮退故障シミュレーションを検出テストで行い，検出回数を利用して故障候補を削減する．ISCAS85/89に対する実験結果では，1つの回路を除いて15個以下の故障候補が得られている。