不確かなテスト集合の検出／非検出情報に基づくオープン故障の診断法

摘要

近年，大規模回路に対して組込み自己テスト法（BIST）の導入が進んでいる．それに伴って，BIST環境に適応した故障診断法の開発が望まれている．BIST環境では，被検査回路の故障を検出するテストにおいて誤りを観測する外部出力及びスキャンフリップフロップを知ることは容易ではない．また，BISTで印加したテストから被検査回路の故障を検出できるテスト（検出テスト）を識別することは困難である．更に，LSIの微細化技術の進展ならびに高集積化·多層化に伴い，配線の接続不良によるオープン故障の診断が重要となっている．これまでに，筆者らは，テスト集合における検出／非検出情報のみを用いた分岐元信号線の単一オープン故障の診断法を提案している【22】．しかしながら，文献［22］では，検出テスト候補の集合には非検出テストは含まれないという前提のもとで評価を行っている．そこで本稿では，先に提案したオープン故障診断法が，BIST環境で得られる不確かなテスト集合のもとでの故障診断においても適用可能であるかを考察する．また，不確かなテスト集合のもとで，筆者らが提案したオープン故障診断法をISCAS'85及びフルスキャン化されたISCAS'89ベンチマーク回路に適用した診断実験結果を示す．実験結果から提案した故障診断法が，不確かなテスト集合を用いてもオープン故障を診断できることを示す．