キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力テスト生成法

摘要

実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩留り損失の原因のひとつにあげられる．したがって，キャプチャ消費電力が闇値を超えるようなテストベクトルは，不必要な歩留り損失につながるためテストに使用できない．そのため，テスト生成時にキャプチャ消費電力を考慮する必要がある．本論文では初期テスト集合中の低キャプチャ電力テストベクトルを利用した故障シミュレーションベースの低キャプチャ電力テスト生成手法を提案する．提案手法では，シンプルなアルゴリズムで高速に低キャプチャ電力テスト集合を生成する．ISCAS'89，ITC'99ベンチマーク回路を用いた実験では，従来の低キャプチャ電力テスト生成手法と比較して最大で301倍高速に低キャプチャ電力テスト集合を生成し，アンセーフ故障数を平均97％削減したことを示す．