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【24h】

LECCS-I/Oモデルの広帯域化を目的とした3ポートβパラメ」タ測定によるインピーダンスパラメータ抽出法の検討

机译:通过测量LECCS-I / O模型宽带3端口β参数测量阻抗尖锐斑点提取方法

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摘要

筆者らが提案しているディジタルICのEMCマクロモデル(LECCS-I/O)の広帯域化のため、βパラメ肘夕測定に基づくインピーダンスパラメータ抽出法について検討した.まず,従来モデルにおいて電源-グランド間インピーダンスのシミュレーション精度が高周波で低下する原園を調べたところ,2ポートぶパラメータ測定ではIC入力端子に接続された外部回路の影響がモデルのインピーダンスパラメータに現れることが判明した、そこで,IC内部の等価回路と外部回路を分離するためICの入力部を考慮した線形等価回路(LEC)のモデルを構築し,3ポートぶパラメータ測定によるパラメータ抽出を検討した.ICの外部負荷や人力端子に接続する回路を変化させた時のインピーダンスシミュレーションを行ったところ,従来モデルと比較してより高い周披数までモデルのシミュレーション精度が向上した.
机译:研究了基于β-Paramed肘部测量的阻抗尖锐斑点提取方法,为作者提出的数字IC的EMC宏模型(LECCS-I / O)拓宽。首先,当电源接地阻抗的仿真精度在传统模型中以高频降低时,双端口参数测量显示连接到IC输入端子的外部电路的影响为机型阻抗Sparameter为了将IC和外部电路内的等效电路分开,构造了考虑IC的输入单元的线性等效电路(LEC)的模型,并检查了参数测量的参数提取。当IC的外部负载或连接到人力终端的电路改变时,执行阻抗模拟,并且与传统模型相比,模型的模拟精度直到更高。

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