FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討

摘要

フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として，チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミングを用いて測定する手法が提案されている．しかし，測定される遅延値はテスト時の温度影響により変動するため，温度が一定ではない異なるテスト時刻の遅延値の比較をすることができない．そのため，測定遅延値に対する温度影響の補正処理が必要となる．本論文では，FPGAに遅延測定回路を搭載し，テスト時の温度変動が測定遅延値に与える影響について評価する．そして，テスト時の温度に依存しない遅延測定の実現のため，オンチップ遅延測定における温度影響補正について検討する．