プログラム可能な素子を利用したゲートレベル回路のデバッグ手法

摘要

VLSIが大規模化する中で，回路のデバッグを自動的に行うアルゴリズムの研究が重要となっている．本稿ではディジタル回路のデバッグ手法として，ルックアップテーブル（LUT）やマルチプレクサ（MUX）を用いた手法に注目する．LUTやMUXが挿入された回路を，製造後の故障や回路の修正に利用する手法は既に提案されている．しかし，この手法をデバッグに利用する場合には，LUTを挿入する位置を決定する必要があり，またデバッグのために，LUTの入力に信号を追加することが必要な場合もある．本稿では，デバッグを行うたあにLUTの入力に追加する信号を絞り込む手法を提案する．すなわちバグが生じた際，異なる複数の入力信号に対してLUTへの入力が同じであるとき，値の異なる信号を追加することが必要になる．これを利用して実験を行い，産業用の例題に対して効率良く追加する信号を探索できることを示す．