組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ

摘要

本研究では，著者らの研究グループが提案する，高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の適用例を報告する．より実用的な規模の順序回路として，簡単をプロセッサに提案方式を適用した結果を示す．オンラインBISTを伴う独自設計した8ビットプロセッサが，同時多重に発生する周期的な過渡故障を回避できることをシミュレーションで確認する．また，面積オーバーヘッドに関する比較·評価によって，プロセッサ規模の順序回路についても，提案方式を低い面積オーバーヘッドで適用できることを示す．