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机译:统计分析评价多Si TFT晶界影响的评价
統計的解析; デバイスシミュレーション; 結晶粒界; Vthばらつき; 粒界モデル; Poly-Si TFT; Statistical analysis; Device simulation; Grain boundary; Variation in Vth; Grain boundary model;
机译:通过统计分析评估多晶硅TFT的晶界影响
机译:统计分析评价多Si TFT晶界影响的评价
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