机译:电流检测型原子力显微镜与电子注射应力 - 微观评估栅极绝缘膜劣化机构的电流检测型原子力显微镜分析
ストレス励起リレーク電流; 電流検出型原子間力顕微鏡; トラップ; 信頼性; SILC; Stress-induced leakage current; C-AFM: conducting-atomic-force microscopy; Trap; Reliability;
机译:电流检测型原子力显微镜分析带电子注入应力的栅氧化膜-栅绝缘膜劣化机理的微观评价
机译:用电流检测型原子力显微镜评估栅绝缘膜的局部泄漏电流
机译:使用电流检测原子力显微镜局部漏电流评估栅极绝缘膜
机译:SiN膜作为栅绝缘膜的常关型AlGaN / GaN MIS-HEMT的电学特性
机译:参见有关超短栅极MOS场效应晶体管的栅极氧化物和超薄SOI结构的研究利用统计
机译:通过原子力显微镜和电化学技术研究功能分子与客体的相互作用