「計装化押し込み試験の巡回測定データを用いたtangent depth法によるヤング率の算出」の補足

摘要

計装化押し込み試験の巡回測定で明らかになった3つの課題点，すなわち，外れ値，ばらつき，そして標準試料の選択依存性は，いずれも試験法の信頼性に関わる深刻な問題であり，早急に解決すベきである。前報の論文では，巡回測定で参加機関から提出された押し込み曲線に対し，Ishibashiらが提案したtangent depth法を適用し，算出されたヤング率を参加機関の報告値と比較した。その結果，tangent depth法により前述の3つの課題点に大幅な改善が見られること，したがってこの問題の原因が解析プロセスにあることを明らかにした。本技術資料は当該論文の補足であり，全体的な統計解析ではなく個別の試験機に着目して，参加機関の報告値とtangent depth法のヤング率を比較すること，実際の押し込み曲線の例を示すこと，また，別のtangent depth法プログラムの結果を示すことなど複数の目的で執筆された。なお，いくつかの結果については，既に研究部会等で紹介済みである。