透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析

摘要

X線吸収微細構造（X-ray absorption fine structure，XAFS）こ関する基礎·応用研究はシンクロトロン放射充の紺な高輝度X線施設の発展と相侯って，今や極据置範な分野にわたって展開されている。 XAFSを構茂尋る2つ瑚微細構造解机すなわち吸収端広域微細構泣（Extended absorption edge fine structure，EXAFS）による短範囲敵：責の解析および吸収短近傍微細構造（X-ray absorption near edge structure, XANESまたはNear edge X-ray absorption fine structure，NEXAFS）による含有元素岡澤派毎所的な化学結合状態の同定は80年代以降の理論おび実験技術の進展と共に，標準的な解析ソフトウェアも各地の主たる研究所で整備され三，多くの材料研究者にとって一つの身近なツールとなっている。