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【24h】

走査電顕試料作製におけるトラブルシューティング

机译:在扫描电子显微镜的样品制备故障排除

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摘要

今回は,トラブルシューティングということで見逃しやすいポイントについて記載したか全ての試料に当てはまるものではない.ここで言えることは,どのような試料においても各処理工程でアーチファクトの要因が潜hでいるということである.従って,良いSEM像を得るためには全ての過程が適切におこなわれることが必要である.
机译:这次,故障排除不适用于丢失点所描述的所有样本。 这里可以说的是,在任何样品中的每个样品中提交伪影的因素。 因此,必须正确地执行所有过程以获得良好的SEM图像。

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