Методами просвечивающей, растровой электронной и атомно-силовой микроскопии изучена струк-тура поверхности тонких пленок на основе поли [4,4(-бис(4"-N-фенокси)дифенил]амидокислоты 1,3-бис-(3',4-дикарбоксифенокси)бензола и продукта ее термической имидизации - частично кри-сталлического полиимида поли [4,4(-бис-(4"-N-фенокси)дифенил]имида 1,3-бис-(3',4-дикарбоксифе-нокси)бензола на разных стадиях термической имидизации, а также после плавления и последую-щего отжига. Топологическая структура поверхности пленок описана моделью дискретных класте-ров. При прогревании до 200 и 280°C возникает непрерывная сетка бесконечного кластера, последующий отжиг приводит к разрушению сетки на дискретные фрагменты, которые практиче-ски соответствуют кластерам в исходной пленке полиамидокислоты. Пленка полиимида, прогретая до 280°C, кристаллизуется в виде игольчатых кристаллов, стабильных по отношению к аргоновой плазме. Морфология поверхности пленок полиимида, рекристаллизованных из расплава, имеет сферолитный характер.
展开▼
