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クリーンルームおょび関連ずる制御環境空気中の有機物質の基板表面暴露方法による測志方法

机译:空气中有机基质表面曝光方法的洁净室相关控制环境方法

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摘要

この附属書は、クリーンルームおよび関連する制御環境空気中の分子状汚染物質(Airborrle Molecular Contaminant;AMC)のうち、基板表面に吸着する凝縮性有機物質(Condensables)の測定方法について規定する。 この附属書で用いる主な用語の定義は、JIS K 0114(ガスクロマトグラフ分析通則)、JIS K 0123(ガスクロマトグラフ質量分析通則)、JIS K 0211(分析化学用語(基礎部門))、JIS K 0214(分析化学用語(クロマトグラフィー部門))、JIS Z 8122(コンタミネーションコントロール用語)及びJIS Z 8402(分析·試験の許容差通則)による。 凝縮性有毒幾物質とはウエハなどの清浄な表面に液化凝縮する可能性がある有機化合物群であi)、大気圧において沸点が室書見より高い化合物である。
机译:该附件限定了一种测量吸附在洁净室中的底物表面上的可冷凝有机物质(冷凝物)和相关控制环境空气中的分子受污染材料的方法。 本附件中使用的主要术语的定义是JIS K 0114(通常是气相色谱分析),JIS K 0123(气相色谱仪质谱),JIS K 0211(分析化学术语(基本分部)),JIS K 0214(分析化学品术语(色谱分析)),JIS Z 8122(污染控制项)和JIS Z 8402(分析和测试耐受)。 可冷凝的呼吸湿度是有机化合物基团,其可以液化为诸如晶片,有机化合物基团的清洁表面,其是在大气压下更高的化合物。

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