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CdTeを用いた二次元画像検出器の開発

机译:使用CDTE开发二维图像检测器

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摘要

現在までに非破壊検査及び異物検査用のX線検出器としてX線フィルムやシンチレーターが利用されてきた。 一方、化合物半導体であるテルル化カドミウム(CdTe)は、室温動作が可能であることや高い検出効率、高いエネルギー分解能をもつことから、次世代のX線検出器として注目を集めている。我々は、次世代検出器としてCdTeを用いた直接変換型の二次元画像検出器を開発し基本的性能評価および画像撮影を行った。
机译:X射线薄膜和闪烁体已被用作X射线探测器,用于迄今为止的非破坏性检查和异物检查。 另一方面,化合物半导体Terbed镉(CdTe)被吸引了作为下一代X射线检测器,因为室温操作是可能的,高检测效率,高能量分辨率。 我们使用CDTE作为下一代检测器开发了一种直接转换型二维图像检测器,并进行了基本的性能评估和成像。

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