加速光致衰退測試於工業上的應用

摘要

光致衰退（light-induced degradation，LID)是一種廣泛存在於工業用（單及多晶）矽太陽能電池片上，經由照 光或是施加正向電壓後，進而導致電池片效能衰退的現象。衰退的現象源自於複合中心（缺陷）的生成， 有效監控L1D的程度對工業界來說是必要的。然而，目前針對電池片做LID測試的標準程序尚未建立， 此外，傳統LID測試的衰退源一光的硬體保養並不容易。為此，我們訂定以發展出一台可以提供可靠， 快速的工業用LID測試機台做為目標。本文即針對機台研發的過程及其在工業上的應用作介紹。