透過型電子顕微鏡法による磁性フェライトの構造物性

摘要

透過型電子顕微鏡（TEM：Transmission electronmicroscope）は今日では材料解析に広く使われおり，特にナノサイエンスにおいては必須のツールの一つである。TEMの大きな特徴の一つは高分解能であることだが，その性能を発揮させるには，かつてはいわゆる“職人芸"が必要とされた。それが今ではトレーニング次第では大学院生でも使いこなせるようになっているが，それには高輝度の電子源の開発や，TVカメラとそれに続くCCDカメラなど記録装置の開発など，技術的な進展に困るところが大きい。