...
首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >Многослойные фоточувствительные структуры на основе пористого кремния и соединений редкоземельных элементов: исследования спектральных характеристик
【24h】

Многослойные фоточувствительные структуры на основе пористого кремния и соединений редкоземельных элементов: исследования спектральных характеристик

机译:基于多孔硅感光多层结构和稀土元素的化合物中,该研究的光谱特性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Исследованы спектральные характеристики коэффициента зеркального отражения, фоточувствитсльности и фотолюминесценции многослойных структур на основе пористого кремния с ионами редкоземельных элементов. Показано, что фоточувствитсльность таких структур в диапазоне длин волн 0.4-1.0 мкм повышена по сравнению со структурами без редкоземельных элементов. Структуры с ионами Ег~(3+) проявляют люминесцентные свойства при комнатной температуре в спектральном диапазоне от 1.1 до 1.7 мкм. Спектр фотолюминесценции эрбисвой примсси представлен тонкой структурой линий, отражающих структуру расщсплсния мультиплста ~4I_(15/2) иона Ег~(3+). Показано, что структуры с пористым слоем на рабочей поверхности имеют значительно более низкий коэффициент отражения во веем измеряемом спектральном диапазоне 0.2-1.0 мкм.
机译:研究了基于多孔硅的镜面反射系数,光敏性和光致发光的光谱特性,具有稀土元素离子的多孔硅。结果表明,与没有稀土元素的结构相比,向0.4-1.0μm的波长范围内的这种结构的光敏性提高。具有离子的结构例如〜(3+)在室温下在光谱范围内在1.1至1.7微米的室温下表现出发光性能。 erbiscation的光致发光谱由反射多个多个Multiplest〜4i_(15/2)离子〜(3+)的结构的薄结构表示。结果表明,在工作表面上具有多孔层的结构在0.2-1.0μm的可测量光谱范围内具有明显较低的反射系数。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева 443011 Самара Россия;

    Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева 443011 Самара Россия;

    Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева 443011 Самара Россия;

    Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева 443011 Самара Россия;

    Институт физики микроструктур Российской академии наук 603950 Нижний Новгород Россия;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 半导体物理学;
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号